扫描式电子显微镜能够在纳米级别上对样品进行成像，清晰地观察到样品的微观结构和细节。目前，扫描电子显微镜的分辨率可以达到亚纳米级别；具有较大的景深，在成像过程中，即使样品表面存在高低起伏，不同深度位置的信息都能清晰呈现，从而使SEM图像具有特殊的三维立体感，有助于理解样品的表面结构。
 

　　只需将块状或粉末状的样品稍加处理或不处理，就可直接放到扫描电镜中进行观察，因而更接近于物质的自然状态；可以通过安装不同的探测器和附件，实现对样品的多种信号的检测和分析，如二次电子、背散射电子、X射线等，从而获取样品的形貌、成分、结构等多种信息。
 

　　扫描式电子显微镜的使用注意事项：
 

　　1.操作流程与安全：严格按照操控手册要求进行SEM的启动和关闭流程，切勿随意操作以免损坏仪器。在使用SEM时务必佩戴安全眼镜、防护手套等个人防护装备避免因意外事故带来的伤害。遵循仪器操作规程不得将检视物体超出仪器最大承受范围以防止镜头损坏或样本受损。
 

　　2.样本处理和准备：样本处理要确保无氧化物、尘埃等杂质存在以免影响观察效果。样本尺寸大小要符合仪器规格注意避免样本与仪器部件之间的接触以免损坏或污染仪器。样本应均匀分布在样品台上避免出现浓度过高或不均匀的现象以确保观察结果准确性。
 

　　3.仪器维护与保养：定期检查和维护扫描电子显微镜的各个部件包括电子枪、探测器、真空泵等确保其正常工作状态。及时清理和更换耗材如钨丝、光管等以保证仪器性能稳定。避免在潮湿、高温、强磁场等恶劣环境下使用仪器以免影响其使用寿命和性能。