飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL 于 2016 年 3 月落户北京科技大学。北京科技大学的用户主要观察各种合金材料中夹杂物相及其拉伸断裂断口形态，飞纳台式扫描电镜样品室版 Phenom XL 配备的背散射电子和二次电子探测器可满足该用户所有待观测样品的测试需求。观察合金材料中夹杂物相， Phenom XL 的背散射电子探测器是不错的选择，因为使用背散射电子探测器可以同时观察样品表面的形貌和成分信息，从而帮助用户区分出夹杂物。当观察合金材料拉伸断裂断口形态时，可以使用  Phenom XL 的二次电子探测器，您将获得清晰立体的断口形态扫描电镜图像。Phenom XL 采用寿命为 1500 小时的 CeB6 灯丝，亮度是钨灯丝的 10 倍，可以显著提高扫描电镜图像的分辨率，提供表面细节丰富的高质量图片。

背散射电子像观察铝合金中各种夹杂物相

二次电子观察铝合金拉伸断裂断口

飞纳电镜操作简易，非常适合没有扫描电镜操作经验的用户。自动马达样品台配合光学导航，仅需 15s 的抽真空时间，可以方便快速地检测样品。能谱 EDS *的反卷积拟合功能使得定性和定量更加准确可信。飞纳台式扫描电镜样品室版 Phenom XL 必将有力推动中国新金属材料的发展。

铝合金中的铁析出相成分及含量判定

用户认真学习飞纳电镜

顺利拿到培训合格证书

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