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- 飞纳电镜射击残留物分析(GSR)
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飞纳电镜射击残留物分析(GSR)的背散射成像,用来扫描样品和发现可疑的 “GSR" 颗粒。一旦发现可疑的颗粒,使用能谱(EDS)识别在该粒子中的元素。zui常见的搜索元素为 Pb,Sb 和 Ba。无铅底火的检测,例如 Ti 和 Zn 也可为搜索条件进行搜索。
飞纳电镜射击残留物分析(GSR)是在台式扫描电镜运行自动射击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL。软件和硬件*一体化,以提高用户操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目:自动射击残留物分析和分类软件包,BSED 和 EDS 探头内部集成,校准试样。
配备 CeB6 灯丝,使其稳定运行,灯丝寿命不低于 1500 个小时,从可用性,适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间,和快速的全自动马达样品台,使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具,可以用来进行自动射击残留物分析。
飞纳电镜射击残留物分析 Phenom GSR
基于 CeB6 灯丝的高分辨图像
直观易用的 GSR 软件
高吞吐量,一次性放置多达 36 个试样
操作简单,*丢失导航系统,*集成能谱仪
测量结果准确可靠,广泛兼容法医领域的各类应用
规格参数
光学放大: 3 - 16 X 电子光学放大 :200,000 X 分辨率 优于 8 nm 数字放大 Max. 12 X 光学导航相机 彩色 加速电压 4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调 真空模式 高分辨率模式
降低核电效应模式
高真空模式
探测器 背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配)
样品尺寸 zui大 100 mm X 100 mm 可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台
样品高度 zui高 65 mm,样品高度全自动调节