- DENS TEM 原位加热杆
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DENS Wildfire TEM 原位加热方案
01 产品概况
Wildfire 原位加热系统是为了探索材料在高温下的反应和状态变化的研究人员而设计的，其*的稳定性超越了市场上大部分的同类产品，允许从室温加热到1300℃，并在所有的方向上保证优异的温度控制和样品稳定，确保了在高温下观察样品动态时，TEM能保持最高的分辨率和分析性能。
同时，设计的芯片和4点探针法，可通过快速反馈实现温度的局部测量，从而实现即时稳定和精确的温度控制。对于需要进行高温下三维重构研究的客户，我们也配备了α倾转角达到70°的样品杆，便于客户进行多方位的研究。
02 产品特点
样品制备简单便捷
1. 可简单快速地进行薄膜转移
大面积范围内都保持平整，方便转移样品薄膜
2. 滴加的样品颗粒都在视野中
样品直接滴加到芯片上，可有效的降低毛细效应
3. 优质的 FIB 样品薄片
使用我们专有的 FIB 样品台可轻松制备样品薄片，并直
接在芯片上进行最终减薄，而不会影响加热性能。
可靠的加热控制
1. 准确的温度控制
通过四探针法加热可以在所有的温度达到精准控制，温
度稳定性偏差 ≤ 0.005°C。
2. 全可视区域的超高温度均匀性
温度均匀性偏差小于 0.5%。
3. 支持客户亲自验证其准确性和均匀性
客户可通过使用 EELS 和 SAED 技术在透射电镜
（TEM）中直接验证温度。
高质量结果
1. 高稳定性
即使温度高达 1000 °C，漂移率也小于 200 nm，并且可
以在最短的时间内稳定。
2. 不受影响的 STEM/TEM 性能
极小的 Z 方向位移（膨胀）有效保持了 TEM 的最佳分辨
率，而不需要频繁移动样品台来达到同研发的目的。
3. 优异的分析能力
微型加热器极大地降低红外辐射，可在高达 1000 °C 的
温度下进行 EDS 分析。
03. 案例分享
下图是 Wildfire 原位样品杆在 1000℃ 下采集到的 PdAu 纳米颗粒的 mapping 图谱，得到了高质量的 EDS 信号，使得高温下的 EDS 分析成为可能。当前，许多科学家借助 Wildfire 原位样品杆在高影响因子的期刊上发表了高质量的文章，而利用原位透射电镜了解材料的形态和成分变化，也在科研领域越来越受欢迎了。
04 应用领域
05 原位实验技术简介
透射电子显微镜（TEM）一直是观察微观世界的有力工具。尤其是球差矫正器的出现，科学家已经可以实现在原子尺度上对材料的化学结构进行表征成像。此外，TEM 的进步也带动了 CCD 相机的发展，这样，TEM 就同时具有优异的空间分辨率和时间分辨率，那么时间和空间的结合，是否可以让 TEM 动起来？
众所皆知，TEM 需要在高真空条件下表征静止状态下的样品，但这不足以反映材料在真实环境下的微观结构。为此，荷兰 DENSsolutions 公司多位科学家利用最新的 MEMS 技术，设计出的纳米芯片，据此可以向 TEM 中引入动态外界刺激条件，模拟样品在真实环境下的状态，打破压力的限制，记录样品的动态变化过程，让 TEM真正的实现动起来。
荷兰 DENSsolutions 公司为透射电镜提供技术先进的、纳米尺度的原位显微工具，其产品可以为原位 TEM 样品施加外界刺激，捕捉 TEM 样品在真实环境下的动态现象。目前，已经可以在 TEM 中引入气、液、热、电等多种状态。
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