Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜，可用于磁性材料表面形貌分析，帮助观察颗粒、晶粒和表面缺陷。

Phenom Pharos G2 采用肖特基热场发射电子枪，电子光学放大倍数可达 2,000,000 X，分辨率优于 1.5 nm，适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。

该产品具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器，并可根据需求选配能谱探测器。具体配置和价格根据样品类型、成像需求及功能配置确定，可通过平台询价/留言入口获取选型建议，并预约试样。