Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于薄膜材料表面缺陷分析，帮助观察划痕、颗粒、孔洞和结构特征。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对最大 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器，并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定，可通过平台询价/留言入口获取选型建议，并预约试样。

产品特点：

1. 大仓室设计，可分析最大 100 x 100 mm 样品。

2. 平均成像时间约 40 秒，适合多样品观察和日常检测。

3. 电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm。

4. 采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时。

5. 支持低、中、高三种真空模式，适合多类材料样品。

6. 标配背散射探测器，可选配二次电子探测器和能谱探测器。

7. 台式设计，适合实验室日常部署与使用。

8. 支持选型咨询，可预约试样。

应用领域：

可用于薄膜材料表面缺陷分析、高分子薄膜检测、包装材料观察、表面形貌分析和质量控制。